ScienceFrance.com - Localisation de laboratoires
Liste des techniques à localiser recherche de laboratoires pour la caractérisation de matériaux
AES XPS UPS
TOF-SIMS SIMS Mossbau
RAMAN AFM RMN
STM SEM SEM-FEG
TEM TEM-FEG SAXS
GISAXS HRXRD EXAFS
LEED RPE SQUID
ET    OU
  




Sites de référence
Enregistrement d'instruments
Critères de Recherche

 Techniques

Localisez simultanément, dans des laboratoires de reccherche, jusqu'à 4 techniques. La recherche "ET" implique que les techniques sélectionnées soient présentes dans le même laboratoire.
Pour la localisation, sélectionnez: (). Pour l' information, utiliser les liens hypertext: AES


 Fournisseurs
Obtenez les coordonnées des fabricants en sélectionnant une ou plusieurs techniques


 Laboratoires
Localisez un laboratoire à partir de son nom ou d’une partie de son nom et identifiez ses moyens de caractérisation.


 Instruments

Localisez des instruments de caractérisation à partir d'une référence (ex : escalab 250), ou d’une partie de cette référence.


 Axes de Recherche
Localisez des moyens de caractérisation par rapport au savoir faire d'un laboratoire défini par mots clés.

 

Les informations apparaissent au survol des points rouges sur les cartes. Affinez la localisation en sélectionnant une région. Pour chaque laboratoire sélectionné, obtenez : ses coordonnées, une description de ses moyens de caractérisation, la personne à contacter pour des informations sur l'instrument, les domaines d'activité développés autour de ces techniques,...

 

x Classement

Chaque recherche donne lieu à un classement des régions et des laboratoires les mieux équipés.

 

 

Actuellement 156 laboratoires et 240 instruments sont référencés

 


 

Auteur: Roland BENOIT, CNRS Orléans.

Developpement: Brice NARJOUX.



Nouveau K-Alpha tm+

 

ARM200F
Ce spectromètre XPS permet d’une manière efficace d’accéder à la composition chimique d’une surface. Récemment équipé de la spectroscopie UV, il constitue avec sa source cluster d’érosion un instrument adapté à l’étude du comportement des surfaces et des interfaces, quelles que soient les familles de matériaux.

Voir l'article

 


L’IPREM reste en France un des laboratoires de référence pour la caractérisation des surfaces. La complémentarité qu’il développe autour des spectromètres  XPS , Auger et le ToF-SIMS témoigne de son expertise.

 



Après l’IPREM de Pau, Science et Surface vient de faire l’acquisition d’un nouveau spectromètre XPS. Dans le milieu académique, c’est le 250 Xi *, un spectromètre XPS évolutif qui a été retenu, tandis que Science et Surface a retenu le dernier K-Alpha* afin de répondre à une demande croissante d’analyses de surface. (* Thermo Scientific)



Description des techniques

Superconducting QUantum Interference Device
Superconducting QUantum Interference Device
Informations sur cette technique