ScienceFrance.com - Localisation de laboratoires
Liste des techniques à localiser recherche de laboratoires pour la caractérisation de matériaux
AES XPS UPS
TOF-SIMS SIMS Mossbau
RAMAN AFM RMN
STM SEM SEM-FEG
TEM TEM-FEG SAXS
GISAXS HRXRD EXAFS
LEED RPE SQUID
ET    OU
  




Sites de référence
Enregistrement d'instruments
Critères de Recherche

 Techniques

Localisez simultanément, dans des laboratoires de reccherche, jusqu'à 4 techniques. La recherche "ET" implique que les techniques sélectionnées soient présentes dans le même laboratoire.
Pour la localisation, sélectionnez: (). Pour l' information, utiliser les liens hypertext: AES


 Fournisseurs
Obtenez les coordonnées des fabricants en sélectionnant une ou plusieurs techniques


 Laboratoires
Localisez un laboratoire à partir de son nom ou d’une partie de son nom et identifiez ses moyens de caractérisation.


 Instruments

Localisez des instruments de caractérisation à partir d'une référence (ex : escalab 250), ou d’une partie de cette référence.


 Axes de Recherche
Localisez des moyens de caractérisation par rapport au savoir faire d'un laboratoire défini par mots clés.

 

Les informations apparaissent au survol des points rouges sur les cartes. Affinez la localisation en sélectionnant une région. Pour chaque laboratoire sélectionné, obtenez : ses coordonnées, une description de ses moyens de caractérisation, la personne à contacter pour des informations sur l'instrument, les domaines d'activité développés autour de ces techniques,...

 

x Classement

Chaque recherche donne lieu à un classement des régions et des laboratoires les mieux équipés.

 

 

Actuellement 156 laboratoires et 240 instruments sont référencés

 


 

Auteur: Roland BENOIT, CNRS Orléans.

Developpement: Brice NARJOUX.



Nouveau JEOL JEM ARM200F

 

ARM200F
Ce nouveau microscope électronique en transmission (résolution: 0.08 nm) permet d’ontenir des images à l’échelle subatomique. Il est équipé de systèmes de corrections d’aberrations sphériques et de moyens d’analyses tels que l’EDS  et l’EELS. Un premier système sera bientôt installé à l’université de Paris 7.

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Un voyage au cœur des matériaux à l’échelle atomique
La sonde atomique tomographique est une technique originale et prometteuse pouvant étudier les surfaces notamment les films minces

Alain Menand et Didier Blavette
Groupe de Physique des Matériaux - UMR CNRS 6634, Université de Rouen
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Le nano-Squid, 1012 fois plus sensible qu'un Squid traditionnel
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Description des techniques

Small Angle X-Rays Scattering
Small Angle X-Rays Scattering
Informations sur cette technique